北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司
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詳細(xì)摘要： 硅芯電阻率測(cè)試儀是按照我國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）*的材料驗(yàn)收檢測(cè)方法設(shè)計(jì)。它適合于測(cè)量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2018-02-17 在線留言
詳細(xì)摘要： 薄膜方塊電阻測(cè)試儀 主要用來測(cè)量硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層、導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。它由電氣測(cè)量部份（簡稱：主機(jī)）、測(cè)試架、四探針頭及專業(yè)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2018-01-17 在線留言
詳細(xì)摘要： 該儀器專門為硅料分選而設(shè)計(jì)，可以快速準(zhǔn)確的測(cè)量PN型、重?fù)健㈦娮杪省?duì)碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料均可測(cè)量。系統(tǒng)同時(shí)配備三探針探頭、四探針...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2018-01-08 在線留言
詳細(xì)摘要： 擴(kuò)展電阻測(cè)試儀型號(hào)：進(jìn)口擴(kuò)展電阻法是利用特殊的點(diǎn)接觸金屬探針，沿著樣品的表面 ，以微小的步進(jìn)測(cè)出半導(dǎo)體材料或器件表面的每一點(diǎn)的擴(kuò)展電阻值，由此得到電阻、電阻率和...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2017-12-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 單晶型號(hào)測(cè)試儀是快速鑒別硅晶材料的導(dǎo)電類型“P"和“N"的測(cè)量儀器，測(cè)量范圍寬，硅材料電阻率從0.01~199.9Ω*cm。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2017-12-14 在線留言
詳細(xì)摘要： 硅片電阻測(cè)試儀 是用來測(cè)量硅片、硅單晶、鍺單晶電阻率的測(cè)量儀器。它由電氣測(cè)量部份（簡稱：主機(jī)）、測(cè)試架、四探針頭及專業(yè)測(cè)量軟件組成。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2017-12-05 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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